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为了观察烧结成品晶粒生长情况,气孔率,致密性等,分析元素的掺杂等对成品性能的影响,对制得的ZnO陶瓷成品断口进行观测。样品1与样品2相比较小且大小不等、杂乱无章,即存在8um左右的大晶粒也存在很多1um以下的小晶粒,其中以小尺寸晶粒居多;(2)晶粒形貌呈现多样性生长趋势。(3)ZnO主晶相之间存在较多存在孔洞、缝隙。由2中可以看出:(1)ZnO平均晶粒尺寸为10
~15um,且小尺寸晶粒数量大量减少,尺寸生长比较均匀;(2)晶粒形貌大多呈现正多边形或圆形生长趋势、晶粒生长堆积紧密;总之,掺杂TiO2的样品与未掺杂TiO2的样品相比从显微结构上看晶粒形貌规整,结构均匀、致密,晶粒较大。样品3.ZnO主晶相之问存在较多存在孔洞、缝隙;图晶界出现了大量液相熔融,且晶界较宽,而且晶粒边缘有尖晶石相存在使晶粒长大受限;相比较样品2.晶粒尺寸又变的不均匀,出现极大和极小颗粒。总之,随着TiO2的加入ZnO压敏陶瓷的平均晶粒尺寸增大,但加入量过多时,ZnO压敏陶瓷的电性能开始恶化。TiO2的掺杂会使氧化锌压敏陶瓷的平均晶粒明显增大,但掺杂量过多时会产生大量Zn2Ti04尖晶石相阻碍晶粒进一步长大。
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ZnO压敏电阻陶瓷的性能是压敏陶瓷中为优异的一种。近年来,由于电子设备向小型化、多功能化发展,集成电路的集成速度和密度不断提高,为了使电子线路免遭浪涌电压的破坏,在低压领域内对压敏电阻器的应用也提出了越来越高的要求,因此ZnO的低压化成为研究的热点。为了寻求一个相对合适的ZnO压敏陶瓷的低压化配方,并且将所学专业理论知识与实际相结合,经文献查阅,我们设计了添加剂的量依次适当增加的四组平行实验来进行研究。本文首先简析了ZnO压敏陶瓷材料的概念、结构、研究现状及压敏电阻的性能参数,并详细解释了其导电机理。同时对制备ZnO压敏陶瓷的基本工艺流程做了初步的了解,通过热分析的实验和老师的指导得出,烧结温度分别为1160℃、1180℃,1200℃三个温度下保温2h的烧结条件。
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